通過熱流（熱通量）測量以找到發(fā)熱模式，并且了解溫度升高的原因

可使存儲記錄儀的數(shù)據(jù)和高速相機的圖像數(shù)據(jù)同步，并進(jìn)行數(shù)據(jù)采集

可以瞬間檢測出線圈的繞圈開始、繞圈結(jié)束的錯誤。

可確認(rèn)復(fù)印機等的定影輥是否溫度適宜。

功能性高分子電容的特性檢查

高速數(shù)據(jù)記錄儀和風(fēng)速變流器組合,實現(xiàn)冷卻效率評估和數(shù)據(jù)管理。

頻率根據(jù)溫度變化的水晶振動子傳感器中，阻抗的頻率特性正確性也是重要的參數(shù)之一。使用 IM3570 進(jìn)行入庫檢查。

通過測量帕爾帖元件的內(nèi)部電阻，可以檢查金屬、半導(dǎo)體、耦合狀態(tài)等。

能夠高速測量電容陣列的泄漏電流，從而縮短工時。

輕松地進(jìn)行符合JIS C 2170防靜電電荷積蓄的固體平面材料的電阻以及電阻率試驗方法。國際標(biāo)準(zhǔn)為IEC61340-2-3。